摘 要：为探究碳化硅功率器件抗辐照损伤能力和辐射效应机制，基于LabVIEW软件开发平台，利用Keithley公司的2410高压源表、USB-GPIB接口适配器等设备，针对两款商用碳化硅功率二极管，建立了一套辐射效应测（试读）...
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